EDX-LE能量色散X射线分析根据色散方法不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。

 

　　EDX-LE能量色散X射线分析是确定物质中微量元素的品种和含量的一种办法，又称X射线次级发射光谱分析，是运用原级X射线光子或其它微观粒子激起待测物质中的原子，使之发生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研讨。

 

　　用X射线照耀试样时，试样可以被激起出各种波长的荧光X射线，需求把混合的X射线按波长(或能量）分隔，分别丈量不同波长(或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此运用的仪器叫X射线荧光光谱仪。

 

　　测验对样品有特别的要求:一般情况下只能对固体样品进行分析，假如要测验液体样，也要通过处理转化成固体后方可测验。

 

　　常见的样品制备办法：在测验时，为了尽量减少光线散射，需求对原始试样进行切片或压片处理以获得外表平坦的测验样，同时测验样的长宽也要小于45mm。此外，关于材料的厚度和质量也有约束:如块体材料，要求轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm;而关于粉末样品，为了获得压片测验样，一般需求至少5g干燥的粒度在200目以下的均匀粉末。