X荧光光谱仪性能特点

X荧光光谱仪|天瑞贵金属检测仪|贵金属检测仪生产厂家|黄金检测仪|

大功率光管； 
超大窗口面积正比计数盒； 
优美弧线造型，典雅大方， 
宽阔样品腔，方便操作及测试较大样品； 
多种样品夹持方式（*夹具，样品托板，橡皮泥），可完成普通测试，内壁测试，不规则样品测试； 
手动升降平台确保测试不同厚度的样品； 
小准直器，利于测试样品小区域； 
摄像头与激光定位，可视地准确定位到被测点，测试时激光点自动关闭，利于拍摄清晰照片； 
良好的射线屏蔽确保操作人员安全。 
透明罩可透视清晰观察测试过程； 

X荧光光谱仪技术指标

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元素分析范围从钾（K）到铀（U）； 
分析含量一般为ppm到99.9％； 
任意多个可选择的分析和识别模型； 
相互独立的基体效应校正模型； 
多变量非线性回归程序； 
多次测量重复性可达0.1％； 
*工作稳定性为0.1％； 
电源：交流220V±5V； 
测量时间：60-200S 
管压：5-50KV 
管流：50-1000μA 
温度适应范围：15℃-30℃ 
外观尺寸： 450×450×360mm 
样品腔尺寸：300×250×160mm 
重量： 39Kg

X荧光光谱仪标准配置

正比计数盒；
50W X光管； 
高压电源输出 50Kv@1mA； 
摄像头激光定位装置； 
高灵敏度信号检测电子电路； 
手动升降平台； 
*夹具； 
橡皮泥； 
准直器直径为1.0。

X荧光光谱仪应用领域

主要应用贵金属测量，也可用于相关行业的镀层测量、RoHS测试等。 
需要对贵金属进行X荧光分析的领域。 
主要应用于首饰店贵金属检测。