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德国EPK MiniTestFH7400壁厚测厚仪
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面议北京时代TT211覆层测厚仪功能特点:
北京时代TT211覆层测厚仪技术参数
测头类型 | F | |||
工作原理 | 磁感应 | |||
测理范围 | 0~1250mm | |||
低限分辨率 | 1mm | 5mm | 10mm | |
示值误差 | ±(3%H 1) | ±(3%H 5) | ±(3%H 10) | |
测试条件 | zui小曲率半径(mm) | 凸1.5 | ||
zui小面积直径(mm) | Ø7 | |||
基体临界厚度(mm) | 0.5 | |||
使用环境 | 温度 | 0-400C | ||
温度 | 20%-90% | |||
无强磁场环境 | ||||
电源 | 二节AAA型1.5V(7号)干电池 | |||
外型尺寸 | 110*50*23(mm) | |||
重量 | 约100g |
标准配置
TT211主机 1
基体 1
仪器包 1
AAA型1.5V(7号)干电池 2