SoilVUE™10土壤多参数廓线传感器是一款基于CampbellTrueWave™ TDR测量技术的土壤剖面传感器。它集土壤水分、电导率与温度测量为一体，是专为从事环境研究的科研人员和环境监测网络而研制。SoilVUE™10体现了土壤水分原位测量技术的创新和进步，是土壤剖面水分等状况监测的优先选择。

Campbell Scientific专有的TrueWave™ TDR技术将信号上升时间与*的波形分析技术相结合，从而准确确定高频信号的真实传输时间。测量过程将获取高分辨精度和平滑的信号，其性能*可以与其它TDR测量相媲美。值得一提的是，并非所有的TDR的传感器都可以达到这样的测量性能。

SoilVUE™10土壤多参数廓线传感器特点：

• 单个剖面传感器可以同时测量6个（0.5 m型号）或9 个（1 m型号）深度下的土壤体积含水量、相对介电常数、电导率和温度；

• 安装快速、简便，对土壤原状的影响降低；

• 传感器输出为SDI-12（1.4版）数字信号，与大多数Campbell数据采集器兼容；

• 针对野外长期监测而设计

技术规格：

测量参数：土壤体积含水量、相对介电常数、电导率和温度

尺寸：直径：5.2cm（不含螺纹）5.8cm（含螺纹）

       长度：0.55米（0.5米型号）；1.05米（1米型号）

重量：1.9kg（0.5米型号）；3.6kg（1米型号）

功耗：12V供电，工作电流（64mA）,待机电流（2.5mA）

测量深度：0.5米型号：5/10/20/30/40/50cm（共6个深度）

              1米型号：5/10/20/30/40/50/60/75/100cm（共9个深度）

电导率：测量范围：0-10dS/m

           测量精度：±2%（0-2.5dS/m）；±5%（满量程）

相对介电常数：测量范围：1-80；测量精度：±1

体积含水量：测量精度±1.5%；有机质土壤和高粘粒土壤可能需要进行标定

土壤温度：测量精度：±0.15℃（-30℃ - +40℃）