AND/艾安得 品牌
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日本AND实验室称重精密天平HR-i系列
面议日本AND BM 自动微量分析天平实验室称重精密天平
面议日本AND HR-AZ/HR-A系列分析天平实验室称重精密天平
面议日本AND GR系列电子分析天平精密实验室天平
面议日本AND GH系列电子分析天平实验精密天平
面议日本AND AD-4212B生产线称重系统精密天平
面议日本AND AD-4212C自带模/数转换器的高精度电磁称重精密天平传感器
面议日本AND AD-4212A系列天平实验室称重精密天平
面议日本A&D HR系列电子分析天平实验室天平
面议日本A&D HC系列电子计数秤精密工业天平
面议日本AND A&D HC-i系列电子计数秤工业精密天平
面议日本AND FC-i/FC-Si系列精密计数秤天平
面议日本AND3255超声波测厚仪
日本AND 3255超声波测厚仪性能:
玻璃,玻璃,塑胶,陶瓷,环氧等广泛材料的厚度测量。
范围内的测量范围覆盖范围(1毫米~300毫米)。
可测量宽范围zui小厚度的扫描模式搭载根据用途,使用3种探头
涂装隔着的厚度测量※(另售品AD - 3255 - 04使用的时候)
在回声・回声模式下去除涂装和镀膜的厚度的测量对象的厚度测量。
※※涂层的厚度测量,在涂装厚度1毫米左右以下且涂装厚度和测量对象厚度的比例1 : 8以上的情况,测量测量对象的厚度。但是,在涂装和测量对象的状态等情况下不能测定的情况。此外,还不能计量涂装厚度。
日本AND 3255超声波测厚仪特点:
探头的零点可以调整。4毫米试验片附。可以更换探头及音速调整
1点调整,2点调整或数值输入可以调整可能。设定内容和调整数据被记忆。
表示耦合的状态,可以确认接触状态。
干电池的数量表示机能。
干电池的话,干电池标志闪烁
干电池的消耗,防止自动パワーオフ功能。
约5分钟不使用,20秒忽亮忽电源断。
在黑暗的环境下也值得看的。
日本AND3255超声波测厚仪
:
测量方法 | 超声波脉冲反射系统 | |
测量单位 | 毫米 | |
测量频率 | 单一点数模式7回/秒,扫描模式16回/秒 | |
测量范围 | 脉冲、回波模式 | 7 mhz探头ad-3255-02(标配探头)0.8 ~ 200.0 mm 5 mhz探头ad-3255-03(超厚探头)1. ~ 300.0 mm 测头AD-3255-04 5 MHz(测量范围)2.0 ~ 300.0 mm |
回波、回波模式 | 5 MHz探针AD - 3255 - 04(选项探针)的情况4.0~30.0毫米(※涂层式测量) | |
测量精度 | ±0.1毫米(测量±0.5范围0.8~50.0毫米) ±0.1毫米(测量±1.5范围50.1~300.0毫米) 测量的实行和精度,被在被测量物表面的状态影响。 | |
精度保证温度范围 | 5 ~ 40 ℃ | |
音速可变范围 | 1000 ~ 9999 m/s | |
显示范围 | 0.65 ~ 600.0 mm | |
表示分辨率 | 0.01毫米/ 0.1毫米选择(但是200.1毫米以上的显示分辨率是0.1毫米) | |
被测量物 | 金属,玻璃,塑料等 | |
电源/电池寿命 | 3型碱性电池2个/连续30小时以上(25℃关,4毫米测量点) | |
使用温湿度范围 | 0~50℃,85% RH以下 | |
保存温湿度范围 | - 10 ~ 55℃,85% RH以下 | |
尺寸/重量 | 73(W)×143(H)×32(D)毫米/约160克(干热电池) | |
配置表 | AD - 3255 - 02(标准7mm探针),AD - 3255 - 01 电缆4mm试块,挂件,说明书,耦合剂 仪器箱 |