一、 核心技术综述

高灵敏度能量色散X射线荧光光谱仪（HS XRF®）

     全聚焦双曲面弯晶衍射X射线管出射谱中高强特征X射线，将X射线光管出射谱单色化并聚焦入射到样品一点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在X射线管韧致辐射所引起的连续散射背景，从而大幅降低元素荧光射线的散射线背景。

单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪与当前*的硅漂移探测器（SDD）是天作之合，硅漂移探测器计数率最高达到100万CPS，所探测样品荧光射线的立体角也受到接受晶体面积的限制，单波长聚焦激发降低入射射线背景射线强度的同时，又聚焦激发，提升SDD探测的样品元素荧光射线立体角，大幅提升元素荧光射线信噪比。

单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪将元素检出限降低至亚ppm水平，从而满足微量和痕量元素分析需求。

1) 快速基本参数法（Fast FP^®）与*数学模型（Advanced mathematical models缩写为Advanced MM）

      XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，从而对于不同类型样品的定量分析带来挑战。

       快速基本参数法（Fast FP^®）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素精确定量分析结果。

安科慧生历经十几年的积累，成功将快速基本参数法与*数学模型应用于XRF定量分析中，极大提升元素定量精度和样品适应性。

一、 高灵敏度能量色散X射线荧光光谱仪工作条件

电源：220V±5%，50Hz±1% ；室内温度：15-35℃；

相对湿度：≤85%；地线：接地电阻≤4Ω

三、主要技术指标

1、原理：依赖全聚焦型双曲面弯晶技术实现X射线光管出射谱单色化聚焦激发样品，降低X射线管散射线背景干扰，大幅降低元素检出限，达到对样品中痕量元素分析能力；

2、光源系统：全聚焦型双曲面弯晶技术，单色化聚焦入射样品；

3、X射线管：微焦斑X射线光管，最大功率<12W，最大激发电压<70KV；

4、样品口：最大样品直径30mm，具有自旋装置，可以减少由于样品不均匀造成的分析误差；自动开关盖设计，软件控制；

5、探测器：硅漂移探测器，窗口面积≥50mm²能量分辨率优于139eV@Mn Kα，最大计数率＞1000Kcps；

6、射线安全：样品盖与光管高压电源联动，具有自动锁定功能，仪器周围与环境背景一致；

7、气氛保护：可以加氢气或氦气气氛保护系统，提升轻元素检出能力；

8、具备无标定量分析能力，基本参数法与*数学模型定量精度：主量元素1%-90%，相对误差±10%；杂质元素0.01%-1%，相对误差±15%；微量元素0.0001%-0.01%，相对误差±20%；

9、可以依赖标准物质建立校准曲线，实现更精确定量能力；

10、元素分析范围：Na-U

11、 检出限：S/Cl LOD=10mg/kg，Pb/As LOD=0.07mg/kg，Cd LOD=0.06mg/kg

（水基体，元素分析时间300秒）

12、重复性：Pb/As/Cd 1=5.0mg/kg RSD＜5%

（土壤基体，元素分析时间300秒，连续分析7次）