手持式光谱仪用铜上镀铋厚度标准片

用于校准手持式光谱仪，不管什么品牌什么型号均可使用。铜上镀铋厚度标准片用于建立和校准铜上镀铋程式。

铜上镀铋厚度标准片

1. Bi/Cu，理论厚度：20微英寸（0.50微米）
2. Bi/Cu，理论厚度：50微英寸（1.25微米）
3. Bi/Cu，理论厚度：100微英寸（2.5微米）
4. Bi/Cu，理论厚度：150微英寸（3.75微米）
5. Bi/Cu，理论厚度：200微英寸（5.0微米）
6. Bi/Cu，理论厚度：250微英寸（6.25微米）
7. Bi/Cu，理论厚度：300微英寸（7.5微米）
8. Bi/Cu，理论厚度：400微英寸（10.0微米）

关于“理论厚度”：实际到货值会在理论厚度的附近。原厂偏差控制在±15%范围内。

关于“底材”：常用为铜（Cu），如有其他底材要求或其他厚度要求，可联系上海益朗仪器有限公司非标定制。

由于箔片太脆弱而无法与手持式光谱仪一起使用，因此手持式光谱仪用铜上镀铋厚度标准片以*的方式包装，以便与手持式光谱仪一起使用。标准设计允许用户在有或没有视频成像的情况下瞄准标准，以便校准便携式XRF仪器的薄膜厚度和材料分析测试。适合用于以下品牌但不限于以下品牌：尼通、伊诺斯、奥林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪声等。

单层手持式XRF产品摘要

这些标准包括一层通过溅射或电镀方法沉积在特定基材上的高纯度薄膜。它们可以用于校准便携式手持XRF设备，以测量在基材上具有一层与标准涂层和基材相同的元素组成的涂膜的样品。这些标准是坚固的，不易弯曲的材料，安装在带有十字线的阳极氧化铝板上，以方便手持XRF仪器的定位和校准。

注意：
1.对于小于等于1微米（40μin）的厚度，交货标准的允许厚度偏差为±10％。 
2.如果厚度> 1微米（40μin），则所交付标准的允许层厚度偏差为±15％。 
3.均匀度：5％。 
4.认证厚度不确定度（95％置信区间）±5％。 

定义：
一。均匀度的定义是：（大厚度–小厚度）/平均
    表示为百分比，其中可以在标准暴露表面的任何位置确定厚度。 
b。除非报价中另有说明，否则以上述规格为准。 
C。“有库存”表示交货时间为下订单后1-2周。