手持式光谱仪用镀钯厚度标准片
手持式光谱仪用镀钯厚度标准片是通过溅射或电镀方法将高纯度钯沉积在基材上。是用于校准便携式手持XRF设备，以测量基材上镀钯的产品。镀钯厚度标准片是坚固不易弯曲的材料，安装在带有十字线的阳极氧化铝板上，以方便手持XRF仪器的定位和校准。

铜上镀钯厚度标准片 Pd/Cu (Palladium/Copper) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Pd/Cu，理论厚度：4微英寸（0.1微米）
Pd/Cu，理论厚度：10微英寸（0.25微米）
Pd/Cu，理论厚度：20微英寸（0.5微米）
Pd/Cu，理论厚度：40微英寸（1微米）
Pd/Cu，理论厚度：60微英寸（2.5微米）

铜上镀钯厚度标准片 Pd/Ni (Palladium/Nickel) Coating Thickness Handheld XRF Standards
Pd/Ni，理论厚度：20微英寸（0.5微米）
Pd/Ni，理论厚度：40微英寸（1微米）
Pd/Ni，理论厚度：80微英寸（2微米）
Pd/Ni，理论厚度：120微英寸（3微米）
Pd/Ni，理论厚度：200微英寸（5微米）

以上为常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，请联系上海益朗仪器有限公司。镀钯主要用于首饰行业、用于滑动和旋转接触件、印刷线路开关、通讯设备以及高频开关元件上。