Chroma/致茂 品牌
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MICROTEST益和6371 LCR Meter 100Hz~100kHz
面议MICROTEST益和6374 LCR Meter 20Hz~100kHz
面议MICROTEST益和6372 LCR Meter 100Hz~200kHz
面议MICROTEST益和6373 LCR Meter 20Hz~20kHz
面议MICROTEST益和6375 LCR元器件测试器
面议MICROTEST益和6376 LCR元器件测试器
面议MICROTEST益和6365 LCR元器件测试器精密型
面议MICROTEST益和6366 LCR元器件测试器精密型
面议MICROTEST益和6367 LCR元器件测试器精密型
面议MICROTEST益和6630 LCR表Meter 10Hz~10MHz
面议中策ZC4116型全数字式高精度失真度测量仪
面议同惠TH2810DLCR数字电桥测试仪
面议致茂Chroma 11050-5M 高频LCR表
11050 series | 高频 LCR 表 | |
11050 | 高频 LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高频 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高频 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端 SMD 测试盒 | |
A110211 | 测试治具 (DIP) | |
A110234 | 高频测试线 (1m) | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) |
简要介绍
致茂Chroma 11050-5M高频LCR表为一提供被动元件量测 评估解决方案,兼具精准与快速两大特色的精密 测试仪器。量测项目涵盖电感、电容、电阻、 品质因素、损耗因素等各种被动元件测试所需的 主、副参数。从20Hz到10MHz的宽广测试频率 范围,适合分析被动元件于不同频率下的特性。 0.1%的基本量测准确度,让量测结果不只是呈 现高稳定性,还具备高可靠性。只需15ms的快 速量测,可搭配自动化机台,有效率地大幅提高 产量。
致茂Chroma 11050-5M高频LCR表除了具备Chroma LCR表一贯的优 异量测性能之外,也继承了各种便利的功能设 计。三种不同的输出阻抗模式,满足使用者对于 量测结果与其他仪器的匹配需求。弹性的显示位 数设定,可依使用者对于量测解析度的需求,调 整成适合的显示方式。测试讯号的监测功能,可 以即时观察待测物上实际承载的电压与电流大 小。触发延迟、量测延迟与平均次数等时序设 定,让量测能紧密配合自动化机台动作,并在有 限的量测时间内取得zui精确的量测结果。
Chroma 11050-5M在外型结构上采单元分离式设 计,利用双CPU分别处理量测与显示,不但能提 高量测的速度,应用于自动化机台上时也能够缩 短测试线的长度,强化高频量测的精准度。-
Chroma 11050-5,M 的另一大特色是完善的介面配 置。标准配备的介面包含了可供软硬体设定量测 条件、触发量测动作、判定量测结果与搜集量测 数据的Handler与RS-232C介面,与可储存仪器设 定的USB储存介面、可直接控制Chroma直流重迭 电源输出的外部重迭电流介面。选购配备的部分 则可依使用者在软体通讯上的需求,选购GPIB或 LAN介面。
功率电感由于携带型电子通讯产品薄型化与低功 耗的设计取向,测试频率逐渐提高,连带使元 件的等效串联电阻值成为影响产品优劣的重要指 标。缓冲电容扮演决定整体电路信赖性的重要角 色,为了能在频繁承载瞬态高压的环境下持续正 常工作,必须于高频时仍保持极低的等效串联电 阻值。因此Chroma 11050 在设计开发时特别关注被动元件在高频领域的测试应用,以贴近使用 者的实际需求,提升关键的量测功能。其于低阻 抗量测的准确度强化,可大幅强化其在高频量测 应用的实用性。
致茂Chroma 11050 高频LCR表藉由全面性的设计考量与重点式 的功能强化,不论是在产品特性研发分析、自动 化产线快速测试或是各式零件进出料管理,都是 *的解决方案。
Chroma 11050-5M 高频LCR表 产品特点
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Chroma 11050-5M高频LCR表 主要技术参数
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Chroma 11050-5M 高频LCR表 产品细节图
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Chroma 11050-5M 高频LCR表 订购信息
11050 series | 高频 LCR 表 | |
11050 | 高频 LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高频 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高频 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端 SMD 测试盒 | |
A110211 | 测试治具 (DIP) | |
A110234 | 高频测试线 (1m) | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) |