芯片高低温测试仪技术参数：
1、温度范围：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃
2、湿度范围：20~98％ RH（请参考爱佩提供的标准行业温湿度分布范围图设定使用）
3、波动/均匀度：≤±0.5℃ /±2℃
4、温度偏差：+2％、-3％RH
5、升温时间：-20℃~150℃约35min -40℃~150℃约45min -70℃~150℃约55min
6、降温时间：25℃~0℃约30min；25℃~20℃约40min；25℃~40℃约60min；25℃~70℃约90min
特点：
1、全新完美的造型设计，外观高质感水准；
2、玻璃视窗配高亮度荧光灯，让使用者随时可观察试验箱内的状况；
3、采用全毛细管，自动负载容量调整系统技术；
4、利用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，使室内温湿度分布均匀；
5、低噪音设计，可连接电脑；
6、可循环编程控制。
芯片高低温测试仪设备满足标准：
1. GB/T10589-1989 低温试验箱技术条件；
2.GB/T10586-1989 湿热试验箱技术条件；
3.GB/T10592-1989 高低温试验箱技术条件；
4.GB2423.1-89 低温试验 Aa，Ab ；
5.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定湿热试验 Ca；
6.GJB150.9-8 湿热试验；
7.GB2423.34-86、MIL-STD883C 方法 1004.2 温湿度组合循环试验；
8.IEC68-2-2 试验 B 高低温交变等；