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SGW X-4B显微熔点仪上海仪电

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湖北捷岛科学仪器有限公司

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产品简介

应用范围：测定物质的熔点。用于化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
zui小读数：0.1℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
配双目体视显微镜
光学放大倍数：40X-100X连续可调

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