近场扫描光学显微镜

C21906近场扫描光学显微镜

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具体成交价以合同协议为准
2024-11-07 12:43:54
9190
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产地类别:进口;应用领域:综合;
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综合
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凯戈纳斯仪器商贸(上海)有限公司

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产品简介

近场扫描光学显微镜NSOM也习惯称为扫描近场光学显微镜SNOM,是用于纳米材料表征*可获得优于光波长分辨率的手段。通常与原子力显微镜AFM结合使用,因此可以获得材料光学与形貌相关的信息。

详细介绍

近场扫描光学显微镜技术参数:
1 NSOM操作模式: 透射模式,反射模式,收集模式,照明模式
2 原子力显微镜AFM操作模式: 敲击模式,接触模式选配,所有探针或样品扫描的AFM操作模式
3 微分干涉对比DIC : 反射和透射
4 折射率成像Refractive-Index Profiling: 反射和透射
5 在线远场共聚焦和拉曼及荧光光谱成像: 反射和透射,针对选择性拉曼散射超薄膜的探针增强拉曼散射
6 热传导及扩展电阻成像: 接触模式,敲击模式,音叉反馈模式无反馈激光引入干扰信号,选配;热探针可作为纳米加热器使用,纳米热分析、纳米相转变等应用。


SPM扫描头规格:
1 样品扫描器:压电材料制薄片扫描器 3D Flat Scanner™;厚度为7毫米
2 SPM扫描范围: 样品扫描,zui大100 microns XYZ
3 扫描分辨率: < 0.005 nm Z
< 0.015 nm XY
< 0.002 nm XY 低电压模式
4 粗调定位范围:6毫米
5 反馈机制:悬臂梁光束反弹反馈,音叉反馈选配
6 样品尺寸:标准配置下,直径zui大至16毫米;正置显微镜下使用,直径zui大至34毫米 特殊样品形状:如竖直样品进行边缘成像等
7 探针:各种针尖外露的玻璃探针,各种常规悬臂梁硅探针均可使用


近场扫描光学显微镜成像分辨率:

1 远场: 受光衍射几何限制

2 光学: 500纳米
3 共聚焦: 200纳米
4 近场扫描光学: 100纳米,条件下可达到50纳米由探针孔径决定
5 形貌: Z向噪声0.05纳米 rms;XY横向分辨率:由针尖直径和样品的卷积决定
6 热成像: 100纳米起,温度灵敏度0.01ºC,300 ºC或更高由样品决定
7 电阻成像: 25纳米


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