美国OAI 317型紫外测量仪

      初设计用于系列500和600(SVG/Perkin-Elmer)投影掩模对准器，基于微处理器的317型分析仪监视器允许存储和回看从曝光系列收集的多个曝光参数(强度、能量和时间)。它计算百分偏差和平均能量。交直流操作。对于310, 365, 380，400和436纳米波长和其他波长都是可用的。

317型适用于需要可重复、可靠的紫外测量的任何应用，适用于各种需要准确测量紫外能量的行业。

美国OAI 317型紫外测量仪特点

平均达9次曝光

数字显示提供清晰、可追溯的NIST测量

测量强度、时间和能量

记录一系列曝光的百分比偏差

探测波长显示有助于防止设置错误

简单的按钮操作提供可靠的结果

RS 232输出下载和记录分析器测量结果

可分离传感器与许多光致抗蚀剂的光谱响应相匹配

可以读取显示读数

前面板提醒提示用户

坚固耐用的铝外壳特征手柄和便携传感器袋