EPMA-8050G 电子探针显微分析仪
EPMA-8050G 电子探针显微分析仪

EPMA-8050G 电子探针显微分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-09-05 21:19:14
5767
属性:
产地类别:进口;价格区间:面议;仪器种类:其它;应用领域:电子;
>
产品属性
产地类别
进口
价格区间
面议
仪器种类
其它
应用领域
电子
关闭
岛津企业管理(中国)有限公司

岛津企业管理(中国)有限公司

超级会员10
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

EPMA-8050G 电子探针显微分析仪搭载高质量场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥得更好。

详细介绍

“The Grand EPMA” 诞生

搭载高质量场发射电子光学系统
将岛津EPMA分析性能发挥得更好

从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有*空间分辨率的场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥得更好。

EPMA-8050G 电子探针显微分析仪,高水准的EPMA诞生!

EPMA-8050G 电子探针显微分析仪特点:

更高分辨率面分析

对碳膜上Sn球放大3万倍进行面分析。即使是SE图像(左侧)上直径只有50nm左右的Sn颗粒,在X射线图像(右侧)上也是清晰可见。

优异的技术实现

■ *的空间分辨率
EPMA可达到的更高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV)分析条件下的二次电子分辨率。
(加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)

■ 二次电子图像高分辨率高达3nm
碳喷镀金颗粒的观察实例。实现更高分辨率
3nm(@30kV)。相对较高的束流也可将电子束压
细聚焦,更加容易的获得高分辨率的SEM图像。

  

■ 大束流更高灵敏度分析
实现3.0μA(加速电压30kV)的超大束流。
全束流范围无需更换物镜光阑。

■ 至多可同时搭载5通道高性能4英寸X射线谱仪
无人可及的52.5°X射线取出角。
4英寸罗兰圆半径兼顾高灵敏度与高分辨率。
至多可同时搭载5通道相同规格的X射线谱仪。

■ 全部分析操作简单易懂
全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。
追求「易懂」的人性化用户界面。
搭载导航模式,自动指引直至生成报告。


更高灵敏度面分析

使用1μA束流对不锈钢进行5000倍的面分析。精细地捕捉到了Cr含量轻微不同形成的不同的相(左侧),同时也成功地将含量不足0.1%的Mn分布呈现在我们眼前(右侧)。

  

 

实现微区更高灵敏度分析的技术

1 高亮度肖特基发射体
场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度,还可提供高灵敏度分析不可少的稳定大电流。

2  EPMA专用电子光学系统
电子光学系统,聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧,交叉点不是靠聚光透镜形成,而是由安装在与物镜光阑相同位置上,具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定更合适的打开角度,将电子束压缩到更细。当然是不需要更换物镜光阑的。

3 更高真空排气系统
电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔(orifice)间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小,以控制流入中间室的气体,使电子枪室始终保持着超高真空,确保发射体稳定工作。

4 高灵敏度X射线谱仪
至多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。

上一篇:原子力显微镜SPM-Nanoa由宏入微,压电材料微观表征顺手随心 下一篇:守护“锂”想丨SPM助力深度探究锂电池负极稳定性
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :