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北京市所在地
测量显微镜 普通型测量显微镜
型号:GH/15J
1.北京测量显微镜直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等。
2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3.用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。
北京测量显微镜技术参数:
物 镜 | 目 镜 | 显微镜 放大倍数 | 工作 距离 | 视场 直径 | ||
放大倍数 / 数值孔径 | 焦距 | 放大倍数 | 焦距 | |||
2.5×/ 0.08 | 43.40 | 10× 带分划板Reticle | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
10×/ 0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.4 |
测量工作台读数装置主要规格:
X-轴移动测量范围 50mm
Y-轴移动测量范围 13mm
测微器分度值 0.01mm
测量台转动范围 不限
测量台刻度盘分度范围 00 ~ 360 0
测量台刻度盘之分度值 10
测量台刻度盘游标读数示值 6''
仪器示值误差±(5+L/15)μm
仪器示值误差: 包括测量误差与仪器系统误差。
测量地点温度变化(200 C±30 C)
L-被测件长度(mm)
仪器之主要尺寸:
测量台与物镜之间zui大距离 80mm
测量工作台直径 120mm
仪器外形尺寸 高325×长262×宽220mm
仪器重量 约10.6Kg