植物图像分析仪系统操作方法|价格|云飞科技
植物冠层图象分析仪广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等。植物冠层图象分析仪广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等。
植物图像分析仪系统    产品简介：
该多用途*型的植物叶面积、根系、年轮、叶色分析仪是一种方便、可在野外或实验室使用的综合性分析仪器，精确度远高于传统的分析仪（传送或基于相机的类型）。采用统一标准，可精确、快速、无损伤地测定叶片的叶面积和叶色参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量，还可进行叶片颜色分析（包括按叶片颜色自动分档查询，用于植物或作物氮肥状态的快速评价）。系统的植物年轮分析模块可用于树木年代学、年轮生态环境变化学、年轮气候学、地理科学、考古学研究。植物根系分析模块为可选模块，用于洗根后的专业根系分析，可分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，其功能强大，操作简单，运用于根系形态和构造研究。该仪器综合了植物、农作物在叶面积、根系、年轮、叶色这4大方面的分析功能，广泛适用于农业、林业、气象等部门。
植物图像分析仪系统  技术参数：
叶分析测量参数：叶面积 （可累计面积）、叶片面积（可累计面积）、叶子穿孔面积 （可累计面积）、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 （不受叶片孔洞影响）、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，辅助真彩病理分析，叶片颜色分析（包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价）。
植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、生成年表、数据分析处理能力。
植物根系可分析测量：1）根总长；2）根平均直径；3）根总面积；4）根总体积；5）根尖计数；6）分叉计数；7）交叠计数；8）根直径等级分布参数，等。匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取处理TIFF、BMP、JPEG标准格式的图像。
植物叶面积分析   植物叶色比对分档
植物年轮分析1    植物年轮分析2
植物根系分析1    植物根系分析2

植物图像分析仪系统操作方法|价格|云飞科技植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪*采用的原理。在上述原理下， 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中zui精确和zui省力、省时、快捷方便的方法。

植物冠层图像分析仪适用于森林及低矮植物冠层测量；广泛应用于植物研究，农业生产和农业科研，研究植物冠层内部的光照辐射透过情况，研究植物的生长发育、人工栽培管理、产量品质与光能利用间的关系，可根据获取的植物冠层图像计算出叶面积指数LAI、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直接辐射透过率、消光系数和叶面积密度的方位分布、任意地点和任意时期的太阳轨迹等冠层参数。