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X荧光镀层测厚仪 涂层膜厚仪 镀层生产厂家
仪器简介
XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。
搭配微聚焦射线管和*的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。
检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。
XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。
搭配微聚焦射线管和*的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。
检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。
应用领域
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
电镀液的金属阳离子检测
X荧光镀层测厚仪 涂层膜厚仪 镀层生产厂家性能优势:
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm.
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨:快速定位样品。
EFP*算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
项 目 | 参 数 |
测量元素范围 | Cl(17)-U(92) |
涂镀层分析范围 | 各种元素及有机物 |
分析软件 | EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析 |
软件操作 | 人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误 |
X射线装置 | W靶微聚焦加强型射线管 |
准直器 | ? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;准直器任意选择一种 |
近测距光斑扩散度 | 10% |
测量距离 | 具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm) |
样品观察 | 1/2.5彩色CCD,变焦功能 |
对焦方式 | 高敏感镜头,手动对焦 |
放大倍数 | 光学38-46X,数字放大40-200倍 |
样品台尺寸 | 500mm*360mm |
移动方式 | 高精密XY手动滑轨 |
可移动范围 | 50mm*50mm |
随机标准片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
其它附件 | 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 |