透反射光谱测量系统

近红外全角度透反射测量系统，900-2500nm，应用于材料测量领域

样品材料中的很多成份，当光束以不同的角度入射时，得到的透射率和反射率会因入射角度的变化而变化。通过测量不同角度入射，可获取材料在正入射时所得不到的信息，确定材料的最敏感角度，可以为进一步的研究或设计测量仪器提供依据。

我们提供可见-近红外全角度透反射测量系统搭配光谱仪和其他测量附件，可以实现光源的不同角度入射和接收，适用于mm量级样品的透射光谱测量及反射光谱测量。透反射光谱测量系统采用电控独立双轴设计，配备高精度步进电机，控制发射端和接收端的角度测量，角分辨率达0.001°，重复精度达0.05°。光谱范围覆盖900-2500nm，通过软件控制发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，可用于透射/反射/散射/荧光/辐射等多种全角度模式的光谱测量。

主要特点：

-全角度测量：反射和透射，可以实现-90°至90°范围测量，散射、荧光和辐射，可以实现0°至180°测量。

-多种角度测量模式：可以进行反射、透射、荧光、散射辐射等多种光谱测量

-精确角度控制：高精度电机，角度精度达0.05°

-多维调节样品台：样品台由高精度三维位移台和三维旋转台组成，可实现样品的6维调节

散射和荧光角度测量模式：入射角-90°~90°的任意角度上变化，接收角0°~360°范围内变化，实现散射和荧光光谱的全角度测量。

辐射角度测量模式：接收角0~360°范围内变化。

主要应用：

-纳米光学材料

-材料镀膜

-光子晶体器件

-传感器器件制备

-LED光源

-液晶显示

-角度相关材料分析

透反射光谱测量系统