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仪电物光X-4A显微熔点仪技术参数
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示zui小值：0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
仪电物光X-4A显微熔点仪测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
现在熔点仪有许多种类，顾客可以根据自己的需要与经济能力来选择自己合适的机型。
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