应用领域

1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量

2、测量功能梯度材料的梯度

3、观察功能梯度材料的梯度效应

4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移

5、导电固体中的传导损耗

6、阴极材料的电导率损耗

7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化

8、样品的质量监控

主要技术参数

  测量结果重复性：    优于3%
  误差
  塞贝克系数：          < 3% (半导体)
                               < 5% (金属)
  电导率：                < 5% (半导体)
                               < 8% (金属)
  测量速度：            测量一个点的时间小于4秒

  技术由德国 Panco 公司和德国宇航中心公共研制开发，点击资料下载按钮下载说明手册。