高低温低气压湿热试验箱常用于航空航天、信息电子等领域，比如仪器仪表、电子电工设备、材料、零部件等，要测试其在低气压以及高低温或高低温湿热低气压综合环境下的适应性与可靠性。

1.试验说明
该类试验是模拟飞行器升降期间，未增压和温度未控制的部位所遇到的环境条件。装有弹性密封的非散热元器件(例如带插头插座的连接器)变冷时，会使密封件硬化和材料收缩，当周围气压降低时这种密封可能损坏，造成内压的损失。
当飞行器降入潮湿大气时，气压再升高，低温的元器件可能会遭受霜冻﹐潮湿大气本身或融霜形成的游离水由于压力差可进入元器件内，当密封件恢复正常弹性时，水分就留在元器件内。对于配有封盖而又不带排泄孔的非密封设备，同样也可能发生积水现象。
 

2.试验设备的说明
（1）高低温低气压湿热试验箱应能使试验样品经受试验标准中规定的严酷范围，如低温和低气压范围，在1h内能从极冷条件升到30℃~35℃。在升温且同时保持相当恒定的低气压期间，试验箱在装有试验样品的工作空间同时具有加湿或导入水汽的装置。
（2）由于本试验有水气进入，并常导致绝缘电阻下降，因此试验样品的引线穿过试验箱壁时应无破损或交连，并气密密封。为此连接试验样品的引线本身应具有适当的尺寸和绝缘。
（3）如果试验样品有运动的零部件，它们的运动可能会由于试验内部结冰而受到阻碍，试验箱应具有监测这种运动的电子或机械装置。

3.常用参照标准

GB/T 1C590-2008低气压试验箱技术条件

GB/T 2423.25-2008低温/低气压综合试验方法

GB/T 2423.26-2008高温/低气压综合试验方法

GJB 15C.2A -2009低气压高度试验方法（快速降压除外）

GJB 15C3A-2009高温试验方法

GJB 15C.4A-2009低温试验方法

GJB 15C.24A-2009 破-湿度-振动-高度试验方法（振动除外）

GJB 36CA-2009电子及电气元件试验方法105低气压试验的要求

GB/T 5170.2-2008电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备

GB/T 5170.10-2008电工电子产品环境试验设备检验方法高低温低气压试验设备