The TOBIAS透射比测量仪TBX2000测量ISO视觉漫反射光学密度 (OD) 至6.60D. 较宽的测量范围允许对多种类型的材质如薄膜，层压板和基板进行评估.该设备带有一个2.00D的校准标准但有一个可选的校准标准值需要购买。此外，TBX1500还可以测量正点和负点区域；TBX2000测量不透明度百分比和透射度。数据可以通过USB端口（配件需另外采购）上传电子表格。TBX™可以显示所有函数的存储参考值的偏差。

特点：

· 软键菜单操作；

· 先进的光学系统，满足各行业的规格要求；

· 7.5 英寸平台，可测量大样本；

· 读数可重复高；

· 可选带通滤波器；

· USB 端口标准；

· 软件校准；

· 可切换 LED 灯；

· TOBIAS透射比测量仪TBX2000非常适合测量金属薄膜的光学密度。

规格：

光学设计：ANSI PH2.19；

显示器：Graphical LCD (128x64 pixel)；

孔径：1, 2, 3mm；

尺寸： 3(L)x9(W)x4.5(H) inches (330x229x114 mm)；

长度(臂).：7.5 inches (191mm)；

输出端：USB；

电源：12V via universal 110/220VAC Adapter；

测量范围：0 to 6.60D；

准确度：±0.02D；

精度：±0.01D；

预热时间：None。