SR系列薄膜反射仪是一款相对较低成本和操作简单的工具。

SR系列薄膜反射仪特征：                                                                    

• 简单易操作                        

• *系统性能基于*进的光学设计            

• 基于阵列的探测器系统保证快速测量            

• 测量薄膜厚度和折射率可达5层            

• 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱            

• 可用于实时或在线厚度，折射率的监测            

• 系统具有全面的光学常数数据库           

• *进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似（EMA）每个单独的膜。            

• 可升级到MSP（显微分光光度计）系统，SRM映射系统，多通道系统，大点的·直接测量图案或功能结构 

• 适用于多种不同厚度的基材            

• 各种附件可用于特殊配置，如运行曲线测量曲面            

• 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口