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PHI 5000 Versaprobe II X射线光电子能谱仪
面议日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪
面议FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜
面议FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相显微镜
面议蔡司 Stemi 305 高效实用型体视显微镜
面议蔡司 Stemi 508 研究级体视显微镜
面议FEI Inspect系列 扫描电子显微镜
面议蔡司 Gemini SEM场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 SIGMA高分辨率场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 EVO MA钨灯丝扫描电子显微镜
面议FEI SEM Apreo 扫描电子显微镜
面议布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜系统拥有先进的技术,从而使其在运行性,功能性,实用性上达到zui高水平。基于*Dimension Icon平台,布鲁克 Dimension Edge扫描探针显微镜的设计系统能从上到下产生低漂移低偏离数据,可以在几分钟内完成且达到可发表的数据标准,而不再需要几小时,价格也都低于对于此类程序的预算。特别的是,集成了视觉反馈和预配置功能使得更轻易地得到专家水平的测量结果,也使得先进的大样本原子力显微镜的功能和技术可以被用于每个研究室和用户。
高实用性封闭环Dimension AFM
专有传感器设计利用开环噪音水平实现闭环精确度
显著降低噪音和漂移值,将小样品AFM成像程序与大样品平台联合
显微镜和电子器件的设计可以使得成像精确度高,成本低
适用于任何样品的方案
布鲁克 Dimension Edge 扫描探针显微镜
■开放平台入口可容纳各种试验和样品
■新仪器设计和软件充分利用AFM布鲁克全套软件模式和技术,已达到更高应用要求的需要
■信号路由内置通道使传统测量研究朝着新的方向发展
快速、准确、高分辨率的测量结果
■可视化反馈线流工作流程可确保短时间优化设置,排除疑虑和后患
■高分辨率5兆相机和机动可编程平台可提供快速样品导航和高效多点测量
■从观测到zui高分辨过程的无缝转化可达到短时间获得准确结果
先进的纳米功能不仅适用于初学者,也适用于专家
■革新的组合系统设计带来高性能低成本
■带有实验-选择模式的新型版本8软件凝聚了10年AFM专业设置精华
■完整平台控制可与强大平台程序一样直观导