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PHI 5000 Versaprobe II X射线光电子能谱仪
面议日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪
面议布鲁克 Dimension FastScan 扫描探针显微镜
面议FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜
面议FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相显微镜
面议蔡司 Stemi 305 高效实用型体视显微镜
面议蔡司 Stemi 508 研究级体视显微镜
面议FEI Inspect系列 扫描电子显微镜
面议蔡司 Gemini SEM场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 SIGMA高分辨率场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 EVO MA钨灯丝扫描电子显微镜
面议赛默飞 MICROLAB 350场发射俄歇电子谱仪是一款高性能的,具有高灵敏度和高能量分辨率扫描俄歇电子能谱仪(AES)。 SEM分辨率<7纳米和扫描俄歇映射(SAM)分辨率<12纳米。
- 二次电子映射(SEM)在<7纳米的分辨率
- 在<12纳米的分辨率扫描俄歇映射(SAM)
- 高灵敏度
- 球形部门分析仪允许高能量分辨率为:
- 化学状态确定
- 反射电子能量损失谱(EELS)
- 硅掺杂剂的测量
- Multitechnique功能,包括:
- X射线光电子能谱(XPS)
- 能量色散X射线光谱仪(EDX)
- 背散射电子检测
- FIB
- 准备的设施,包括:
- 骨折舞台
- 供暖/供冷期
- 蒸发阶段