一 JKZC-JDS04型材料介电常数介质损耗测试系统本设备适用标准
1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
3 ASTM-D150-介电常数测试方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法 二 JKZC-JDS04型材料介电常数介质损耗测试系统主要测试材料:
1 固体材料：绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,猪肉等 2 液体材料：去离子水,全氟聚醚,果汁,甲醇,油类等 三 AS2855介电常数及介质损耗测试系统系统组成： 1 主机：JKZC-JDS04型材料介电常数介质损耗测试系统主机 功能名称： | JKZC-JDS04-A主机QBG-3E | JKZC-JDS04-B主机QBG-3F | JKZC-JDS04-C主机AS2853A | 信号源范围DDS数字合成信号 | 20HZ-1MHz | 10KHZ-/70MHZ/110MHz | 100KHZ-160MHz | 信号源频率精度:6位有效数 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 | Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | Q测量工作误差 | <5% | <5% | <5% | 电感测量范围:4位有效数,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH | 电感测量误差 | <5% | <5% | <5% | 调谐电容 | 主电容30-540pF | 主电容30-540pF | 主电容17-240pF | 电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF | 调谐电容误差
分辨率 | ±1 pF或<1%
0.1pF | ±1 pF或<1%
0.1pF | ±1 pF或<1%
0.1pF | 谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 | LCD显示参数 | F，L，C，Q，Lt，Ct等 | F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等 | F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等 | 残余电感自动扣除功能 | 有 | 有 | 有 | 大电容值直接测量显示功能 | 测量值可达2.5uF | 测量值可达2.5uF | 测量值可达25nF | 介质损耗系数 | 精度 万分之一 | 精度 万分之一 | 精度 十万分之五 | 介电常数 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 材料测试厚度 | 0.1mm-15mm | 0.1mm-15mm | 0.1mm-15mm | 介电常数 | 自动测试 | 自动测试 | 自动测试 | USB接口 |
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| 支持介电常数输出以及产生曲线 |  介电常数
|  介质损耗
|  USB接口上位机（介电常数曲线）
| 2介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置： | 固体电极：材料测量直径 Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一）
液体电极：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配） |
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