OLYMPUS/奥林巴斯 品牌
生产厂家厂商性质
北京市所在地
奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率,因此适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。
反射率测定光路图
反射率测定例:镜片 反射率测定例:镜片周边部位
活用反射率数据,测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
膜厚测定的图例
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。
物体色的测定图例
数码相机镜片 /投影仪镜片 / 眼镜片
LED包装 /半导体基板
棱镜 /反射镜
-END-