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SilVIR 探测器结合了两项先进技术:硅光电倍增管(SiPM)和我们已获*快速信号处理设计。作为FV4000和FV4000MPE系统核心突破性探测器技术,它可以大大降低噪声、提高灵敏度和光子分辨能力。
硅光电倍增管
探测器的硅光电倍增管由在盖革模式下运行的多像素雪崩光电二极管(APD)组成。它可同时检测到随机入射光子,从而在更宽波长和动态范围内实现更高的光子检测效率。它还能提供定量数据 - 输出脉冲的高度精确地显示了检测到的光子数量。
获得*快速信号处理
我们的数字信号处理采用集成电路设计,在高速模/数(A/D)转换器中使用了现场可编程门阵列(FPGA)半导体。
SilVIR 探测器还缩短了SiPM衰减曲线,并能根据每个输出脉冲的高度准确检测光子数量,同时实现了低于一个光子的极低噪声。
功能和性能的结合
这些技术的结合实现了最高2,000光子/2 µs的线性和高动态范围检测。
在所有波长下的共聚焦成像中,这一探测器的光子检测效率高于传统使用的高灵敏度GaAsP PMT探测器。因此,SilVIR探测器能够实现出色的信噪比(S/N),让微弱的荧光信号清晰可见。
由于SilVIR 探测器基于半导体技术,因此其灵敏度衰减小,且不同探测器之间的个体差异非常小,有助于确保不同用户在不同时间内获得可靠、一致的结果。
FV4000和FV4000MPE系统捕获微弱荧光图像的能力超越了上一代激光扫描系统。
与传统的GaAsP-PMT探测器相比,SilVIR 探测器在紫光到近红外波长范围内噪声更低,能够更有效地探测到光子,从而可提供质量更好的图像,尤其是在捕获微弱荧光时。无需调整偏移量,即可拍摄到背景干净、信号明亮的荧光图像。更高的灵敏度意味着所需的激光功率更低,从而减少了样品的光损伤。与我们的共振扫描单元结合使用时,您可以在更短的时间内获得高质量、快帧率的图像。
SilVIR 探测器技术能够精确量化图像强度,从而提供了更可靠的数据。成像数据输出为光子数,提供了每幅图像荧光强度的绝对值。即使在高强度水平下,更宽的动态范围也能通过光子数准确地量化荧光强度。
得益于SilVIR 探测器的高动态范围,FV4000和FV4000MPE显微镜无需在暗淡和明亮的荧光区域间做取舍,而是可以同时采集,不会出现信号饱和或弱信号丢失。这样就能以更少的工作量进行准确的图像分析和处理。
传统用于共聚焦成像的光电倍增管不仅需要根据样品的亮度水平进行电压调整,还要调整偏移量以降低背景噪声。要进行这类调整,需要具备专业知识和经验,才能获得高质量的共聚焦图像。
SilVIR 探测器的电压在出厂时已针对灵敏度和低噪声进行了优化,因此您无需对电压和偏移进行任何调整 - 您只需调整激光功率即可达到一定的光子数。由于信噪比(S/N)与光子数成正比,因此只要保持光子数不变,就能保持稳定的图像质量。