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深圳市所在地
日本电子-IT200A扫描电镜
主要特长
电子光学系统
是日本电子株式会社升级版机型,集合了分析扫描电镜精髓功能,结构紧凑、节 省空间,分辨率高。
操作舒适快捷
拥有非常直观的操作系统,即使没有经验的用户也可进行操作高品质的SEM图像,以及高效率元素分析。可支持操作触摸屏。
安装的灵活性 节省空间,安装方便。一个电源插座就足以安装。不需要任何冷却水。
JSM-IT200A性能参数
Main Performance on JSM-IT200A
图像模式 |
二次电子图像
REF像
成份像 (背散射电子图像)
形貌像 (背散射电子图像)
立体像 (背散射电子图像) |
实时图像显示 |
双实时图像同时显示, 分割实时图像显示 |
加速电压 | 0.5KV ~ 30KV |
探针束流 | 1pA ~ 0.3uA |
(二) 电子光学系统 |
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灯丝 |
工厂预对中钨灯丝 |
电子枪偏压 |
无缝式自给偏压, 连续调整 |
电子枪合轴 |
自动合轴 |
灯丝加热 |
自动加热 |
聚光透镜 |
变焦聚光透镜系统 – 技术 |
物镜 |
超级锥形物镜 |
物镜光阑 |
1孔固定,可在X和Y方向微调 |
聚焦 |
自动/手动聚焦 |
像散 |
自动/手动消像散 |
像散存储器 |
标准配置,自动/手动补偿像散 |
图像移动 | X-Y , ±50um |
(三) 样品台 |
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样品台类型 |
全对中样品台 |
行程
| X : 80mm; Y : 40mm; Z : 5 ~ 48mm; 倾斜 T: -10 ~ +90° 旋转 R: 360°连续endless |
zui大样品尺寸 |
可装直径150mm高度为48mm的样品 |
zui大观察视野 |
直径127mm |
(四) 图形显示 |
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显示像素 | 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840 |
图像处理 |
平均值, 灰度修正, 反差增强, 伪彩, 二及四分屏, 2及4倍数码变焦 |
文件存储格式 |
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(五) 操作系统 |
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计算机 | OS : Windows 10 (英语版) 触摸屏式台式电脑 |
(六) 测量功能 |
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平行线间距测量 |
垂直, 水平, 对角 |
2点之间距离测量 |
任意2点间距离 |
圆的测量 |
直径
2个圆中心间距离(触摸屏操作下不支持此功能) |
角度测量 |
角度 |
面积测量 |
圆和多角形 |
计数 |
颗粒计数 |
(七) 真空系统 |
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真空度 |
高真空模式 1×10-4Pa |
抽真空时间 |
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真空泵系统 |
一个分子泵, 一个机械泵 |
(七) 安全装置 |
断电,断水,泄压,漏电保护 |
(八) 自动功能 |
自动电子枪控制,自动聚焦,自动消像散,自动反差和亮度 |
(九) 扩展接口 | EDS 能谱仪、Chamber Scope红外相机、Probe Current Detector束流监视器 |
(十)能谱仪主要性能 |
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探测器 |
电制冷方式Box SDD 探测器 – 不用液氮 |
探头有效扫描面积 | 25 mm2 |
探测器移动 |
固定 |
Resolution 分辨率 | 130eV or less (IC |
元素分析范围 | Be(4) to U(92) 铍 至 铀 |
Window 窗口 | Atmosp 抗大气压的超薄窗 |
取出角 | 35°(WD:10mm) |
Cooling 制冷方法 | Peltier coo |
标准搭载功能 | 定性分析 定量分析 活区面分析 点分析 束流追踪
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日本电子-IT200A扫描电镜:一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。
使用初学者易懂的样品交换导航,可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察SEM图像。Zeromag能像光镜一样直观地搜索视野,Live Analysis*²可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果,SMILE VIEWTM Lab能综合编辑观察和分析报告等,使它成为一个分析业务的软件。
立即观察!立即分析!立即报告!
JEOL InTouchScope™系列*的三个功能使分析装置成为一种工具。
■完成样品交换的同时观察开始 样品交换导航
样品交换导航是从打开样品室到开始观察过程中进行导航的功能
■立即观察! Zeromag观察
使用主窗口显示的样品台示意图和光学 CCD 图像 *¹ ,进行视野搜寻和分析位置。
■立即分析!Live Analysis分析*²
通过显示谱图和显示元素,能确认正在观察中的视野的谱图及主要元素。
■立即报告!SMILE VIEWTM Lab 数据集中管理
按下数据管理图标并显示数据管理窗口后,从SEM图像到分析,对全部数据能创建批量报告 、查看数据并重新分析数据。