二手JSM-7610Fplus场发射电镜采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外，还具备利用GENTLE BEAM TM模式进行低加速电压观察、通过R-Filter分选信号等功能，满足各种需求的高扩展性。

　　技术参数： 1．分辨率：0.8nm（15kV）／1.0 nm（1kV） 2．加速电压：0.1 kV—30 kV 3．放大倍数：25—100万倍 4．样品室尺寸：最大200mm直径样品

一、功能特色

配备半浸没式物镜，能将电子束收缩的很细，实现低加速电压下的高分辨成像；采用GENTLEBEAM™模式，通过给样品加以偏压使得电子束在到达样品前减速的功能来实现低加速电压下的有效观察和分析；可通过r-filter选择样品上产生的二次电子和背散射电子信号进行检测。

二、技术参数

1. 电子枪类型：热场发射枪

2. 加速电压：0.1 – 30 kV

3. 二次电子像分辨率：0.8 nm（15kV）、1.0 nm（1kV）

4. 放大倍率： 25–1M倍

5. 能谱：Oxford X-Max50 电制冷能谱仪

三、应用领域

通过扫描电子显微镜材料，可以进行材料表面形貌的观察；材料的断口形貌的观察，了解材料的破坏特征、材料内部的结构及缺陷；通过X射线能谱(EDS)和X射线波谱成分分析等电子探针附件，可掌握材料微区化学成分分析。

二手JSM-7610Fplus场发射电镜技术参数