WGJSTD-A介电常数及介质损耗测试仪_S916介质损耗及介电常数测试装置-上海徐吉电气有限公司手机版

产品简介

WGJSTD-A介电常数及介质损耗测试仪是一款通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验

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特点：

◆ 优化的测试电路设计使残值更小

◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术

◆ LED数字读出品质因数，手动/自动量程切换

◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度

信号源频率范围	25KHz-50MHz	Q测量范围	1-999，自动/手动量程切换
信号源频率覆盖比	2000 ：1	Q测量误差	≤5%±满度值的2%
信号源频率精度	1×10-4±1个字，5位有效数	Q测量工作误差	≤7%±满度值的2%
电感测量范围	0.1μH-1000mH	调谐电容	主电容 40-500PF，微调电容±3PF
电感测量误差	<5%±0.03μH	调谐电容误差/分辨率	主电容<1%,微调电容0.2pf
标准测试频点	全波段任意频率下均可测试	Q合格预置范围	1-999声光提示

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