Hommel W10粗糙度仪德国出厂原装供应

Hommel W10粗糙度仪德国出厂原装供应

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2024-09-24 19:18:55
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产品简介

Hommel W10粗糙度仪德国出厂原装供应
Hommel-Etamic W10 测量仪非常适合用于进行移动式粗糙度测量,让您可以在生产过程本身中监测工件的表面质量。这款实用的测量系统具有广泛的功能。它在横向探测期间以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的测量。集成的粗糙度标准支持快速测试测量仪,确保始终获得非常高的精密度。

详细介绍

Hommel W10粗糙度仪德国出厂原装供应

 

Hommel-Etamic W10 测量仪:适用于横向探测、架空位置和垂直位置的移动式粗糙度测量,借助移动式 HOMMEL-ETAMIC W10 测量仪,您可以用无线方式测量工件,清晰的测量结果始终显示在宽大的触摸屏上。

Hommel-Etamic W10 测量仪非常适合用于进行移动式粗糙度测量,让您可以在生产过程本身中监测工件的表面质量。这款实用的测量系统具有广泛的功能。它在横向探测期间以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的测量。集成的粗糙度标准支持快速测试测量仪,确保始终获得非常高的精密度。

W10 具有集成的热敏式打印机,这意味着可以立即记录测量结果。可以立即打印出公差评估、轮廓、Abbott 曲线和统计数据。该测量仪提供了七个不同的程序,以及用于测试测量仪的选项。所有功能均可通过现代且易于使用的彩色触摸屏进行操作。无需进行长时间的培训,因此可节省您的时间和资金。

此外,还可以选择使用 EVOVIS 移动评估软件扩展该测量系统。这款基于 PC 的软件是专门为移动式测量仪开发的,极大地扩展了粗糙度测量功能。它以在线和离线模式运行,支持您选择测量条件。您还可以自动保存打印表格。

表面粗糙度测试仪Hommel Etamic W10是用于测量粗糙度的便携式仪器。表面粗糙度测量仪根据标准测量所有常见的粗糙度变量,如DIN EN ISO或ISO MOTIF。此外,表面粗糙度测试仪是电源独立的,因为它是电池供电的。它采用无线馈线,使其在实际操作中的应用非常灵活。按钮可以旋转90°,因此粗糙度计的顶置测量可以在垂直位置或横向扫描中进行。表面测试仪采用现代化的4.3“触摸屏操作,同时立即显示公差等级和表面轮廓。这些测量结果可以通过集成热敏打印机直接打印,使立即文档成为可能。该表面测试仪具有8个可能的测量程序,其中一个监控程序专门用于设备验证。这里存储了一个集成的粗糙度标准和设定点,以便现场检查设备。可选地,可以为配备有USB和蓝牙接口的表面测试仪购买评估软件EVOVIS,这使得可以评估识别的测量值并将其保存到计算机。

仪器优点:

技术规范:
测量范围-210 ... +110μm(320μm)
按钮感应滑扣按钮T1E:2μm/ 90°
测量单位可选择μm/μ
zui大。横穿17.5毫米
根据ISO / JIS 1.5 / 4.8 / 15mm的运行
根据MOTIF 0.64 / 3.2 / 16 mm的运动
截止0.08 / 0.25 / 0.8 / 2.5mm
采样长度1 ... 5可选
过滤器DIN EN ISO 11562:高斯滤波器
DIN EN ISO 16610-21:高斯滤波器
DIN EN ISO 13565-1:过滤Rk参数
DIN EN ISO 3274:λs过滤器
键控速度vt 0.15 / 0.5 / 1 mm / s;返回3 mm / s
数据点间距zui小0.5μm(9600点,= 4.8 mm)
尺寸特性DIN EN ISO 4287 Ra,Rz,Rmax,Rt,Rq,RSm,Rp,Rv,Rq,Rsk,Rku,Rdc,Rdq,RzISO,Rmr,Rmr(c),C(Rmr)霸
尺寸特性DIN EN ISO 13565-1,-2 Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk *,Rvk *
尺寸特性MOTIF ISO 12085 R,AR,Rx,CR,CL,Nr,CF
尺寸特性ASMB46 Rpm
尺寸特性JIS B601(2001)Rz-JIS
尺寸特性DIN EN 10049 RPc
尺寸特征戴姆勒MBN 31007 R3z
电池(基本单元)锂离子充电电池,
800个测量周期
(无表情,追踪长度4.8mm)
测量程序7个测量程序,
1仪器检测测量程序
数据存储2000测量数据集/尺寸特征,
500个配置文件记录
接口USB,蓝牙
尺寸224 x 226 x 70 mm(粗糙度测试仪W10)
151 x 50 x 55 mm(进给LV17)
重量980克(粗糙度测试仪W10)
275克(饲料LV17)
集成打印单元
印刷工艺静电热电池
纸张/印刷宽度57±0.5 mm / 48 mm
纸卷Ø= 31 mm
分辨率8分/ mm,384点/线
打印功能测量条件,尺寸特征,粗糙度轮廓,雅培曲线,统计

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