德国新型MiniTest 7400涂镀层测厚仪

MiniTest7400成为今天测量系统理想的解决方案。新概念的优势直观的菜单控制及与上下文相关的联机帮助，使用简易。大背光按键，即使戴着手套操作，也倍感舒适。大背光图形显示频提供的观察效果，即使在晚上或能见度极低的条件下使用也极其方便。配置管理帮助MiniTest 7400简化了校准及参数设置，无需专业技能，也可在短的时间内完成困难测量任务。

主要特点： 1.所有金属基材上的非破坏性测量 2.多种图形显示选项 3.菜单控制界面，更强的数据和配置管理 4.用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件 5.测量厚度高达35mm的各种耐磨探头 6.SIDSP®技术提升度和重现性

SIDSP®技术
SIDSP®是由ElektroPhysik开发的涂层厚度传感器技术。有了这项新技术，ElektroPhysik创新的涂层厚度测量的另一个新*。 SIDSP®代表传感器集成的数字信号处理 - 在其中信号*处理成数字形式，在传感器内部的技术。 与常规技术不同，SIDSP®传感器和控制内部的传感器的传感器头的激励信号。返回信号直接转换成数字，并在32位精度处理，给你完整的涂层厚度值。对于该技术中，均采用了高度复杂的数字信号处理方法。这使迄今实现了信号的质量和精度的模拟信号处理。

探头技术参数: 1.多点校准,在实验室条件下符合提供的标准 2.零点校准，并且校准值和预期的涂层厚度接近 3.使用精密支架，不适用HD探头 4.如果选择“快速”，测量速度主要取决于操作 5.根据 DIN 55350第13部分 6.多点校准值优于获得的数据. 7.包括涂层

校准：为满足应用程序的要求，MiniTest 7400个传感器可校准多达5点(包括零位)。由于预定义的校准和操作方法，仪器支持"ISO 19840；SSPC，"瑞典"、"澳大利亚"、"PSPC"等应用规范并可进行粗糙表面的测量。
MiniTest 7400系列提供了许多校准方法，以满足各种应用程序、程序和工业标准的个性化需求。如果批处理已建立，您可以根据每批选择一个合适的校准方法。如果您在测试模式下，在您已经创建了批之后，或在稍后的时间，可以立即进行校准。打给计量模式的校准功能，按下功能键。校准方法只要当前活动的批处理中没有读数存储时就可以更改

高精度测量支架
对于小物件和小几何的读数，推荐使用外部传感器与高精度支架。