泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116|泰勒

泰勒粗糙度仪Surtronic S116测量参数

SURTRONIC S116 粗糙度仪

一、S116标准配置:

显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;USB接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱

二、技术参数

数据显示 ：

显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果

数据存储：

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘大4G，多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源：

充电器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间：4小时

电池寿命：充电一次可以做2000次测试

待机时间：5000小时

由待机状态到开机测试状态，长时间不超过1秒I

自动关机：30秒– 6小时可以自行设置

三、技术指标：

测量范围：200 um 100 um 10 um

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm

重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪

传感器原：电感

测量力：150-300mg

测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式：滑动扫描

校准：

自动软件校准    标准：ISO4287

四、测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

五、可选附件

测试平台：

00级大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

可调Y轴V型铁

可调范围：±5mm

V型铁长度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改进：

1、电池由碱性9V改为锂电充电电池；

2、显示屏为触摸屏；

3、可以显示测试图形；

4、SURTRONIC 25只能测试10个参数，S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数（见技术参数）；

5、原来SURTRONIC 25使用电位器校准测试结果，现在改为自动软件校准。方便使用；

6、显示屏显示的结果（数据和图形）可以旋转，可以方便的从四个方向观察测试结果；

7、仪器底部为V形，测试轴类部件方便可靠；

8、测试数据存储增加了存储图形功能；

9、可以使用U盘直接存储，一个4G容量U盘可存储3.9万个图形，数据可以存储70批次，每批次为10万个测试数据。

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116|泰勒