全自动晶圆检查系统
半导体晶圆装载机系列,能够将直径为6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的晶圆转移到显微镜上。支持半导体晶圆前图案侧、后周边和中心区域检测。可自动或手动设置晶圆旋转速度和倾斜角度。
Ø 高效、安全的全自动晶圆传送
Ø 适用于不同尺寸:2~8英寸晶圆,实现6/8、4/6、2/4兼容,12英寸晶圆
Ø 适用于不同材料:
1,2,3代半導體材料
Silicon / SiC / GaAs / GaN / InP
透明/非透明材質
Lithium Niobate Wafer/Sapphire Wafer
Ø 适用于不同材料:不透明、半透明、全透明半导体材料
Ø 适用于不同厚度:150um~1000um
Ø 适用于不同类型:Flat、Notch、Mark、双平边
Ø 大尺寸触控屏幕,中文/英文操作界面,操作简单、易学易用
Ø 光学微观检测:德国Leica光学系统…
Ø 可选配多种软件/硬件功能模块,适应不同的应用需求
Ø 可选配AI/AOI智能检测模块
Ø 可选配全自动Auto Review /Defect检查功能组合