全自动晶圆检查系统

视频简介

半导体晶圆装载机系列,能够将直径为6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的晶圆转移到显微镜上。支持半导体晶圆前图案侧、后周边和中心区域检测。可自动或手动设置晶圆旋转速度和倾斜角度。

Ø  高效、安全的全自动晶圆传送

Ø  适用于不同尺寸:2~8英寸晶圆,实现6/84/62/4兼容,12英寸晶圆

Ø  适用于不同材料:

1,2,3代半導體材料

Silicon / SiC / GaAs / GaN / InP

透明/非透明材質

Lithium Niobate Wafer/Sapphire Wafer

Ø  适用于不同材料:不透明、半透明、全透明半导体材料

Ø  适用于不同厚度:150um~1000um

Ø  适用于不同类型:FlatNotchMark、双平边

Ø  大尺寸触控屏幕,中文/英文操作界面,操作简单、易学易用

Ø  光学微观检测:德国Leica光学系统…

Ø  可选配多种软件/硬件功能模块,适应不同的应用需求

Ø  可选配AI/AOI智能检测模块

Ø  可选配全自动Auto Review /Defect检查功能组合


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