Occhio Zephyr系列形态及粒径分析仪
参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可了解样品总体的概况
(1)粒形参数：等效面积直径，筛分直径(内切圆直径)，平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，颗粒zui大长度，体积
(2)粒形参数：ISO 9276-6; 7; 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度
(3)粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义
(4)数据存储：oph 数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度
(5)数据比较：可显示无上限多样品比较图表
(6)可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图
，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像
(7)统计工具：形貌学和粒径过滤方式
(8)显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像
(9) 外部数据分析：可输入、分析外部数据
分析领域：是筛分法的理想替代方案。适合颗粒，如金刚石、烟草、盐/糖、塑料、催化剂、研磨剂、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、药物、金属粉末、标准品、水泥、矿石等的质量控制。可在线应用
Occhio Zephyr系列形态及粒径分析仪主要特点：
精心设计的进样装置易于拆卸、方便清洗
专为大颗粒设计的样品输送系统无损耗
*的光路设计确保聚焦精度，并可消除小颗粒边缘效应
通过高分辨CMOS得到高清晰颗粒图像
