Zeta电位仪厂家-丹东百特仪器有限公司

创新点

BeNano 系列纳米粒度电位仪是丹东百特仪器有限公司全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。

产品简介

Zeta电位仪厂家供应的BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。

详细介绍解决方案

Zeta电位仪厂家供应的BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位仪是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位仪厂家

基本性能指标

粒径检测

原理原理	动态光散射技术
粒径范围	0.3 nm – 15 μm
样品量	3 μL – 1 mL
检测角度	90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

原理原理	相位分析光散射技术
检测角度	12°
Zeta范围	无实际限制
电泳迁移率范围	＞±20 μm.cm/V.s
电导率范围	0 - 260 mS/cm
Zeta测试粒径范围	2 nm – 120 μm

分子量测试

分子量范围

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流变测试

测试能力	均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

折光率和粘度测试

粘度范围

0.01 cp – 100 cp

折光率范围

1.3-1.6

趋势测试

时间和温度

系统参数

温控范围	-15°C - 110°C ，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空气或者氮气
标准激光光源	50 mW 高性能固体激光器， 671 nm
相关器	最快25 ns采样，最多 4000通道，10¹¹动态线性范围
检测器	APD （高性能雪崩光电二极管）
光强控制	0.0001% - 100%，手动或者自动