天星涡流测厚仪ED400

天星涡流测厚仪ED400（也称涂层测厚仪、氧化膜测厚仪）适用于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。涡流测厚仪ED400采用磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如：钢、铁、镍）上非磁性覆层的厚度（如：镀锌、铬、油漆、电泳、珐琅、橡胶、粉未、搪瓷、防腐层等），本仪器能广泛地应用在制造、金属加工、化工、商检等检测领域。

技术参数：
测量范围：     0～500μm

测量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%

分辨率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可选）

使用温度：     5～45℃

外形尺寸：     150mm×80mm×30mm

重      量：     260g

涡流测厚仪ED400配置与选配：