MCW-2010A镀层测厚仪

MCW-2010A镀层测厚仪

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2024-08-23 14:49:08
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上海旺徐电气有限公司

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产品简介

MCW-2010A镀层测厚仪是旺徐公司的新型产品。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷;且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已经达到同类仪器的较高水平。

详细介绍

MCW-2010A镀层测厚仪

MCW-2010A型(涡流)镀层测厚仪是旺徐公司的新型产品。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷;且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能,其性能已经达到同类仪器的较高水平。 

MCW-2010A镀层测厚仪

产品性能
1、测量范围:  0~1200um
2、测量误差:  <3%±1um
3、zui小示值:  1um
4、显示方式: 4位液晶数字显示
5、主要功能:
(1).测量:内置探头全量程测厚
(2).统计:设有三个统计量:平均值、zui大值、zui小值
(3).校准:可进行零点校准、两点校准及系统校准
(4).电量:具有欠压显示功能
(5).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示
(6).关机:具有自动关机和手动关机两种方式
6、电源:两节1.5v电池
7、功耗:zui大功耗110mw
8、外形尽寸:115mm*45mm*25mm
9、重量:100g(含电池)
10、使用环境温度:0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90%
11、基体zui小厚度: 0.3mm
12、基体zui小平面的直径: 7mm
13、zui小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示: 右上角显示""
*临界厚度值:工件基体厚度大于1mm时,其镀层厚度的测量不受基体厚度影响。

配置单

1、镀层测厚仪MCW-2010A 一台
2、1.5v电池 (7号) 二节
3、标准样片  一盒
4、标准基体 一块
5、小铝箱 一个
6、说明书、合格证 一套

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