GTEM500小室构成的辐射敏感度（抗扰度）测试系统为小型电子产品的辐射电磁场干扰敏感性提供有力的测试依据。测试系统构成：主要由标准信号源、功率放大器、场强监视器、计算机及操控软件和GTEM 室体组成。

GTEM500小室

PA3000 1月4日 0.04% 读数 + 0.04% 范围 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250

4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 参数分析仪 (2) 4200-SMU 模块 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备

4200A-SCS-PK2  高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模块

(2) 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块

自动化检定套件 (ACS) 软件

超快 BTI 测试项目模块

电缆"

BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置与报价

BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置与报价

BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置与报价

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