布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE

布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-08-18 11:58:38
1617
属性:
发生器功率:300WkW;价格区间:面议;角度偏差:0.0001;仪器种类:多晶衍射仪;应用领域:医疗卫生,环保,化工,电子,电气;重复性:0.0001;最小步进角度:0.0001;
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产品属性
发生器功率
300WkW
价格区间
面议
角度偏差
0.0001
仪器种类
多晶衍射仪
应用领域
医疗卫生,环保,化工,电子,电气
重复性
0.0001
最小步进角度
0.0001
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冠乾科技(上海)有限公司

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产品简介

布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换。

详细介绍

新的D8 ADVANCE 衍射仪——真正的“智能化”衍射仪

D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!
*进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。


·元器件自动识别及配置

·元器件互换无需调整,弹指间实现光路互换

·在一台设备上集成多功能,而且轻松实现功能互换

·系统智能纠错

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布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE技术指标:                                                
●Theta/theta 立式测角仪                              
●2Theta角度范围:-110~168°
●角度精度:0.0001度                    
●Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管                  
●探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  
●仪器尺寸:1868x1300x1135mm                            
●重量:770kg                                              
D8 ADVANCE 3.jpg


布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE主要功能:

●TWIN / TWIN 光路

布鲁克的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

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●动态光束优化(DBO)

布鲁克的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。


●LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有高计数率和好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余K?和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。

布鲁克提供的LYNXEYE XE-T探测器保证:交货时保证无坏道!

D8 ADVANCE 5.jpg

应用:
●物相定性分析
●结晶度及非晶相含量分析
●结构精修及解析
●物相定量分析
●点阵参数精确测量
●无标样定量分析
●微观应变分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●残余应力
●低角度介孔材料测量
●织构及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率测量
●小角散射 

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