PARIO Plus 土壤粒径自动分析仪
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PARIO Plus 土壤粒径自动分析仪

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2024-09-18 15:22:16
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产地类别:进口;应用领域:生物产业,农业,地矿,综合;
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进口
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生物产业,农业,地矿,综合
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北京仪诺信科技有限公司

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产品简介

PARIO Plus 土壤粒径自动分析仪基于斯托克斯定律(Stokes´ law)计算粒径分布 , 其测量范围为 63~2 μm。PARIO 的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法,采用压力传感器以 10s 间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化,获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。

详细介绍

PARIO Plus 土壤粒径自动分析仪基于斯托克斯定律(Stokes´ law)计算粒径分布 , 其测量范围为 63~2 μm。PARIO 的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法,采用压力传感器以 10s 间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化,获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。


产品简介

PARIO Plus 土壤粒径自动分析仪在 PARIO 的基础上进一步提升,测量准确度和效率均大幅提升。

2017 年 METER 研发的革命性的土壤粒径分析设备 PARIO 上市。对比传统的粒径分析方法 PARIO 表现出绝对优势。传统的比重计法(或吸管法)手工耗时 24 小时,费时费力易出错,激光粒度仪法,设备昂贵,耗时长,且存在方法性偏差。PARIOPlus 设置好之后全程自动测量,仅需在测量结束时手动打开阀门。

测量时长缩短至仅需 2.5 小时,估计误差低至 ±0.5%。PARIO Plus 从繁杂的实验中解放科学家的双手,全身心投入科学问题的研究。


测量原理

基于斯托克斯定律(Stokes´ law)计算粒径分布 , 其测量范围为 63~2 μm。PARIO 的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法,采用压力传感器以 10s 间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化,获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus 使用更精确的“扩展积分悬浮压力法”(ISP+)(Durner et al., 2017)。另外,基于斯托克斯定律的 PARIO 不需要进行土壤特性的传递函数校正,而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正,例如激光衍射法或图像分析法。


主要特点

√ 测量速度快 设置好后,仪器运行仅需 2.5 小时。

√ 测量方法精准 估计误差低至 ± 0.5%,低于任何传统的粒径分析方法。

√ 自动独立运行 PARIO 允许无人值守,自动化操作,仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。

√ 获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同,PARIO 每 10 秒进行一次自动测量,并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。

√ 测量过程无扰动 不需要插入液体比重计,也不需要用移液管进行悬浮液的取样,进而减少了对沉降的扰动。

√ 依据经典原理 根据斯托克斯定律(Stokes´ law)计算粒径分布,**匹配传统实验前期准备工作流程。

√ 黏粒含量直接测量获得

√ 依据温度自动综合计算粒径分布

√ 简单易用一体化 为了您能节省更多时间,PARIO 采用了简便易用的一体化软件解决方案,轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。


产品技术参数

粒径范围:2 ~ 63 μm

质量分数检测的近似误差:PARIO Plus: ±0.5%;PARIO Classic: ±3.0%

压力测量:准确度:±1.0 Pa;分辨率:±0.1 Pa

典型颗粒质量:25 ~ 50 g/ 1L 悬浊液

典型测量时长:PARIO Plus: 3 h;PARIO Classic: 8.0 h 测量间隔:10 s

黏粒含量估算:根据抽取样品综合颗粒质量获得

砂粒含量估算:根据湿筛法测定结果得到

供电需求:USB 5 V/100 mA 电脑兼容:微软 Windows 10

玻璃容器规格:高:450.0 mm;内径:59.0 mm,外径:67.5 mm;体积:1,000 cm3;材质:硼硅酸盐玻璃 3.3

PARIO 仪器:高度:293.0 mm;直径:80.0 mm ;材质:POM 塑胶原料和不锈钢

悬浊液容积:1000 mL

工作温度:15~35 ℃;典型:20℃

测量中允许的最大温度变化:±1.5 ℃

需要额外测量的参数:PARIO Classic: 有机质含量 ( 如进行了有机质去除 );砂粒含量 ( 湿筛法 );总悬浊液中分散盐的质量 

                                  PARIO Plus: 取样测量干物质总质量;砂粒含量 ( 湿筛法 );总悬浊液中分散盐的质量

缆线类型:USB 2.0;500 mA 用于接收端口

符合标准:生产制作遵循 ISO 9001:2015;EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)

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