植物冠层分析仪如何测量叶面积指数
植物冠层分析仪如何测量叶面积指数

Airphen植物冠层分析仪如何测量叶面积指数

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具体成交价以合同协议为准
2018-07-04 16:34:08
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北京博普特科技有限公司

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产品简介

植物冠层分析仪如何测量叶面积指数,测量原理基于贝尔定律,结合Norman和Campbell线性小二乘理论​;Norman和Campbell线性小二乘理论所需要的已知参数包括:太阳天顶角、冠层下的透光率和叶片的聚集指数,计算出冠层的有效LAI,结合聚集指数推算出真正的有效LAI。太阳方位角即太阳所在的方位,指太阳光线在地平面上的投影与当地子午线的夹角。

详细介绍

植物冠层分析仪如何测量叶面积指数

    测量时根据果园的大小。分别设置3-5个测量点,在每个测量点再分别用方框取样法和冠层分析法测量叶面积指数。方框取样法是将方框随机放在树冠上,将方框内的的叶片全部摘下,用叶面积仪测量框内的叶面积,然后根据树冠体积和栽植密度计算叶面积指数。测点的选择与冠层分析仪方法相同。冠层分析仪是分别对应测量天空5个范围的散射辐射,这5个范围的中心视天顶角分别为7°、23°、38°、53°和68°,分别与冠层上部和下部测量辐射通透密度,并根据转换模型估算叶面积指数。在每一个测点的冠层顶部测一次,下部重复测量6-10次,冠层下方的测量在同一水平面上,且在无直接辐射的条件下进行。为了避免光环境迅速的变化对测量结果的影响,选择无直接辐射的条件下进行,然后用冠层分析仪附带的软件对测量的资料进一步加工以校正估值叶面积指数。

植物冠层分析仪特点

    *两轮设计便于野外快速、轻松获取数据

    用户友好接口、适合大区实验

    多角度测量降低直接光照影响

    GPS和罗盘精确定位测量

植物冠层分析仪优势

    1、Airphen植物冠层分析仪配有6个波段:450-900nm(450nm,530nm,570nm,675nm,730nm,850nm),可测量多达几十种植被指数;采用双视场角设计,极大提升了科研调查效率,而上其他品牌的产品不具备双视场角,调查效率是很有限的。

    2、Airphen植物冠层分析仪具有的强大的散热系统能保证产品在运行过程中的稳定性,而其他品牌不具备强大的散热系统,所以其产品的运行稳定性是有待考量的。

    3、Airphen植物冠层分析仪专门针对大疆无人机开发了云台,可保护相机系统的安全使用以及减少相机拍摄的晃动。

    4、Airphen植物冠层分析仪可集成同步RGB相机和热成像相机,解决了红外成像无法精确定位的难题,所获得数据可用于数字高程等系列研究,应用于近地遥感地理勘测、环境调查、农业表型、精准农业、生态研究等领域。

    5、针对Airphen植物冠层分析仪系统在Agisoft的基础上开发了的图像处理插件,使后期的图像处理更加简单化,其他品牌是不具备的。

    6、通过连接手机进入控制客户端,操作简单方便,后期的图像数据处理在云端处理器完成,无须软件操作就可得到想要的数据。

    7、我们的多光谱相机配套的参考板材质不怕磨损,不属于易损耗品,而其他品牌的参考板均属于易耗品,增加了后期使用过程中的成本。

植物冠层分析仪介绍

    植物冠层分析仪就是属于光学法的,特点是携带方便,不需要进行额外的资料处理,可以直接给出叶面积指数值,原理是在假定植物冠层内的各元素随机分布,依据冠层间隙度或光学特性反演叶面积指数。缺点是测量所得叶面积指数有着较大的偏差。叶片的聚集效应越强,偏差越大。因此在测量时,一般需要用直接法校正。

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