专业销售TME SOLUTION-C CHAMBER LEAK TESTER侧漏仪

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TME SOLUTION-C CHAMBER LEAK TESTER侧漏仪

TME Solution -C™测试系统能够测量那些无法通过加压测量方法测量的产品。例如密封的,不稳定的医疗,制药和食品产品的定量检测。代孕室测试是非破坏性的,高灵敏度的压力或真空衰减泄漏测试,返回完好的产品到装配线或包装生产线。
在TME Solution -C™系统可检测的孔小到5微米。这个高度敏感的方法使用专有腔设计广泛用于工业的产品密封件或壁和共同封装材料如薄膜,箔和层压板密封件泄漏。

参数:专业销售TME SOLUTION-C CHAMBER LEAK TESTER侧漏仪
尺寸:8.5” 宽 x 16” 深 x 10” 高
电源:美 : 110/220V , 50/60H @ 2.mps
欧洲:230V, 50-60 H @ 1.2mps
存储和操作环境: 5-40℃,(40-100°F)
相对湿度<80%,非冷凝。
控制:按钮,触控板,键盘锁,电源ON / OFF开关
测试通道: 1
测试模式:压力或真空,单一或差分
单项测试:泄漏,流量
双测试:泄漏/流量,流量/泄漏
显示:背光彩色液晶显示屏,40字符×16行,字母数字/图形
单位: PSI,kPa,mbar等
记录存储器:多达5000测试结果
程序存储器.:多达100个可连接程序
统计:均值和极差控制图,直方图,标准偏差,平均值,小值/ 大值,UCL和LCL
手动输出:测试设定参数,当前结果,数据记录和按需统计
自动输出:目前的测试结果到预先设定的打印机
辅助输出:24V光电隔离PLC接口 单个和多端口配置
通讯端口:RS232接口程序的输入/输出数据
校准:NIST溯源
定时范围:11000秒。
清洁:带有玻璃清洗剂的湿软布,如Windex®

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