数显式磁性测厚仪参数

QUC-200型数显式磁性测厚仪参数

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-06-13 22:00:35
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河北中交铁建工程仪器制造有限公司

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产品简介

QUC-200型数显式磁性测厚仪参数执行标准:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面非磁性涂镀层厚度的测定。

详细介绍

QUC-200型数显式磁性测厚仪参数执行标准:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面非磁性涂镀层厚度的测定。

主要技术参数
1、测量范围:0-200μm
2、测量精度:±(0.7μm+3%H)*H为标准厚度

QUC-200型数显式磁性测厚仪参数执行标准:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面非磁性涂镀层厚度的测定。

主要技术参数
1、测量范围:0-200μm
2、测量精度:±(0.7μm+3%H)*H为标准厚度

QUC-200型执行标准:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面非磁性涂镀层厚度的测定。

主要技术参数
1、测量范围:0-200μm
2、测量精度:±(0.7μm+3%H)*H为标准厚度

QUC-200型执行标准:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面非磁性涂镀层厚度的测定。

主要技术参数
1、测量范围:0-200μm
2、测量精度:±(0.7μm+3%H)*H为标准厚度

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