linkoptik/真理光学 品牌
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LT2200E激光粒度分析仪加持了以下多项创新和技术:
◆ 偏振滤波技术
◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术
◆ 斜入射反傅里叶光路配置
◆ 格栅式大角度检测阵列技术
◆ 粒度分析模式优化及自适应技术
◆ 连续液位感知及控制技术
◆ 高灵敏度光能跟踪及稳定技术
LT2200E光学测量系统的性能还包括:
◆ 符合ISO13320衍射法测量技术标准
◆ *的光路配置,超大连续的物理测量角度
◆ 改进型反演算法,用户无需选择“分析模式”,兼顾的分辨率和稳定性
◆ 无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.1微米至1200微米
◆ 实时测量频率高达每秒2000Hz,不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息
◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统,克服了氦氖气体激光器预热时间长,使用寿命短的缺点
◆ 采用偏振空间滤波技术,摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器
激光粒度分析仪技术参数:
项目 | 指标 | |
测量原理 | 激光衍射 | |
光学模型 | 全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选 | |
粒径范围 | 0.1μm-1200μm,无需更换透镜,不依赖标样校准 | |
检测系统 | 包含格栅式超大角度,非均匀交叉面积补偿检测器阵列 | |
测量池 光源 | 平行斜置 集成恒温系统的638nm,高20mW固体激光器 | |
空间滤波方式 | 非针孔式偏振滤波技术 | |
光学对中系统 | 智能全自动 | |
测量时间 | 典型值小于10秒 | |
测量速度 | 2000次/秒 | |
度 | Dv50优于±0.6% (NIST可溯源乳胶标样) | |
重复性 | Dv50优于±0.5% (NIST可溯源乳胶标样) | |
激光安全 | 1类激光产品 | |
计算机配置 | In i5处理器,4GB内存,250GB硬盘,鼠标,键盘和宽屏显示器 | |
计算机接口 | USB2.0或以上 | |
软件运行平台 | Windows7或以上版 | |
操作环境温度 | 5℃-40℃ | |
操作环境湿度 | 10%-85%相对湿度(无结凝) | |
电源要求 | 交流220V,50Hz-60Hz,标准接地 | |
光学系统重量 | 30kg | |
光学系统尺寸 | 670mm x 275mm x 320mm |