隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)
隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)
隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)
隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)
隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)

UTS-200隐形眼镜中心厚度和基弧测量系统(超声法)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-06-29 12:39:41
4231
属性:
产地类别:进口;
>
产品属性
产地类别
进口
关闭
上海朗善光学仪器有限公司

上海朗善光学仪器有限公司

高级会员8
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

UTS200是*光学在奥林巴斯B200方案的基础上改良的使用超声测厚仪测量隐形眼镜(接触镜)的整套解决方案,可以避免接触式测量带来的镜片变形误差,仪器在非接触状态下可同时测量中心厚度和矢高用于基弧计算。特制的底座和定位夹具可使隐形眼镜平稳准确置于测量支座上。
超声测量方法的特点是快速,重复性高,可靠性高,不易受操作者的主观影响。

详细介绍

 

测量方式:

整个测量腔体包含一个塑料水槽和镜片支座,镜片支座的直径为已知,超声探头从镜片支座下方穿入,对准镜片内表面,其发出聚焦型声波的焦点位于支架中心。镜片支座上覆盖有一层厚度非常小的塑料薄膜,塑料水槽内注满盐溶液。只要将被测角膜接触镜凹面朝下放到支座上,塑料薄膜就成为矢高的基准位置。

测量时,超声探头产生一个穿透盐溶液的锐聚焦超声波能量短脉冲,这个脉冲的部分能量将从塑料薄膜,镜片的内表面、镜片外表面,和盐溶液表面反射回探头。此时测厚仪就会记录下整个回波,然后非常精确的测量*次回波和第二次回波间隔时间,以及第二次回波和第三次回波之间时间间隔。(第四次回波对应的是盐溶液表面的反射,此处忽略。)

*次回波和第二次回波之间的时间间隔与塑料薄膜和镜片内表面之间的距离(即矢高)成正比的,第二次回波和第三次回波之间的时间间隔对应的就是镜片的厚度。可以通过公式计算出镜片的矢高和厚度。

而基弧的曲率半径则可以由公式计算得到。

此处即可得到1-矢高,2-中心厚度,R-基弧曲率半径


 

校准:

任何超声测量设备的精度都取决于校准。对于角膜接触镜的测量,其精度取决于声波在盐溶液中的传输速度和特定的镜片材料。请注意盐溶液中的声波速度会随着温度和浓度而显著变化,且镜片中的声波速度也会受温度和镜片成份的影响。

建议的校准方法是在恒温下测量一个已知基弧和中心厚度的样品,然后校准超声测厚仪的声波。在校准良好的情况下,矢高和中心厚度的误差范围可以控制在+/- 0.01 mm

产品构成

主要技术参数

 

上一篇:角膜接触镜(隐形眼镜)的后顶焦度测量 下一篇:温度对隐形眼镜尺寸测量的影响
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :