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X-325i微顶空残氧/X-325i微顶空残氧/
X-325i是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，zui小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。
使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT，可以实现无损检测分析，应用于*的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。
特征：
● 零样气消耗，只需要极少的样气量，zui少0.1ml
● 可实现对顶空氧及液体溶解氧同时分析检测
● 自动生成数据随时间变化曲线
● 内置温度和压力补偿
● 支持无损检测分析，实现留样分析
● 传感器免维护，无需更换
● 设备零维护，*
● 数据自动无限储存，PDF导出
