KEYENCE WI-004 干涉式同轴 3D 位移测量仪测量头

WI-004KEYENCE WI-004 干涉式同轴 3D 位移测量仪测量头

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具体成交价以合同协议为准
2017-11-15 14:12:39
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瑞轩电子科技(上海)有限公司

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产品简介

针对Z大 10 × 10 mm 的测量区域,可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理,不受材质/颜色、死角的影响,实现了微米级的高精度测量。

详细介绍

销售:钟    

型号

WI-004*1*2*3

参考距离

18 mm

测量范围

Z

1.4 mm(标准模式),0.7 mm(高速模式)

XY

4 × 4 mm

zui小检测区域

15 × 15 µm

重复精度(段差)

0.1 µm*4

直线性(段差)

±2.8 µm(±0.2% of F.S.,F.S.=1.4 mm,+20 至+30℃)*5

测量用光源

类型

红外线SLD

中心波长

830 nm

激光分类(IEC60825-1, GB7247.1)

3R 类

输出

3.6 mW

引导用光源

类型

红色半导体激光

波长

660 nm

激光分类(IEC60825-1, GB7247.1)

1 类

输出

0.15 mW

采样周期

内部触发

133 ms(高速模式),266 ms(标准模式)

外部触发

zui快 266 ms(高速模式),zui快 532 ms(标准模式)*6

环境抗耐性

环境光照

白炽灯/荧光灯:5,000 lux 以下

环境温度

0 至 +35 °C

相对湿度

20 至 85 % RH (无凝结)

重量

约 3000 g

 

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