双折射测量仪PA-300-L是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其*技术的光子晶体偏光阵列片，双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

双折射测量仪PA-300-L主要特点：

• 操作简单，测量速度可以快到3秒。

• 视野范围内可一次测量，测量范围广。

• 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。

• 具有多种分析功能和测量结果的比较。

• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

• 高达2056x2464像素的偏振相机。

双折射测量仪PA-300-L应用领域：

• 光学镜片

• 智能手机玻璃基板

• 蓝宝石、硅晶圆

• 人工晶体等等

技术参数：

测量案例：